El Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la UCM presenta el Grand Arm, el microscopio más potente del mundo

El JEOL JEM GRAND ARM 300 cF es el microscopio electrónico más potente hasta la fecha, es decir, el que tiene mayor poder de resolución: es capaz de resolver distancias entre dos puntos del orden de 0.05 nm. La Instalación Científico Tecnológica Singular (ICTS) del Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la UCM tiene uno de los tres únicos existentes en el mundo, el segundo que se instala en Europa. Se presenta el próximo lunes 25 de abril, a las 12:00 h, en el salón de actos de la biblioteca de la Facultad de Ciencias Químicas. En la presentación participarán: el rector Carlos Andradas, Rafael Van Grieken, consejero de Educación, Juventud y Deporte, María Luisa Castaño, directora general de Innovación y Competitividad, Iwatsuki Masashi, vicepresidente de JEOL (fabricante del Grand ARM) y José González Calbet, catedrático de Química Inorgánica y director del Centro Nacional de Microscopía Electrónica.

El JEOL JEM GRAND ARM 300 cF es el microscopio electrónico con mayor poder de resolución, ya que puede resolver distancias entre dos puntos del orden de 0.05 nm. Para hacerse una idea de su potencia habría que imaginar unas gafas que permitieran ver desde aquí un garbanzo en la Luna. Esta resolución es imprescindible para el estudio de las estructuras de los materiales funcionales avanzados a escala atómica, lo que permite entender sus propiedades con un nivel de precisión hasta ahora no accesible. Es importante destacar su alta sensibilidad para la visualización de elementos ligeros tales como el oxígeno, el nitrógeno, el carbono, el litio e incluso el hidrógeno, tan importantes para el desarrollo y optimización de nuevos materiales útiles para la fabricación de dispositivos relacionados con las comunicaciones y el almacenamiento de energía.

Por otra parte, el microscopio puede operar a bajos voltajes de aceleración. Este hecho es muy importante, ya que habitualmente cuanto mayor es el voltaje de aceleración mayor es el riesgo de dañar los materiales bajo el haz de electrones. Disminuir el voltaje conlleva menor daño, pero también menor resolución. En el microscopio GRAND ARM, debido a la incorporación de un corrector de aberración en la lente objetivo, es posible disminuir el daño manteniendo la resolución atómica. De esta forma, se hace posible el estudio de materiales sensibles como el carbono (nanotubos de carbono, grafeno…) y otros como los MOFs y los mesoporosos. El microscopio está acondicionando con espectrómetros de dispersión de energía de rayos X (EDS) y de pérdida de energía de los electrones (EELS) que permiten obtener, al mismo tiempo que la imagen, información composicional.

El Grand Arm se suma al microscopio JEOL JEM ARM 200 c-FEG, especialmente diseñado para obtener información composicional con resolución espacial de 0.078 nm, instalado en el Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la Complutense hace tres años. Los dos microscopios, ARM 200 c-FEG y GRAND ARM, son complementarios y ofrecen la posibilidad de llevar a cabo una exhaustiva caracterización a nivel atómico tanto desde el punto de vista estructural como composicional de los materiales.

Desde su inauguración en 1988, el Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la UCM ha ido incorporando los avances instrumentales más recientes en los distintos ámbitos de la microscopia electrónica, de tal forma que desde sus inicios ha sido un referente en el desarrollo de la microscopia electrónica en España. En los últimos años, ha incluido en su equipamiento la nueva generación emergente de microscopios electrónicos dotados de correctores de aberración capaces de alcanzar una resolución entre puntos inferior a 1 Å.

Hace tres años se instaló ARM 200cFEG y ahora el Grand Arm, tercero del mundo junto con los de Tokio y Dresde.

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